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JTAG chain

См. также в других словарях:

  • JTAG — steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… …   Deutsch Wikipedia

  • JTAG — JTAG, un acrónimo para Joint Test Action Group, es el nombre común utilizado para la norma IEEE 1149.1 titulada Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture para test access ports utilizada para testear PCBs utilizando escaneo de… …   Wikipedia Español

  • JTAG — (сокращение от англ. Joint Test Action Group; произносится «джей тáг»)  название рабочей группы по разработке стандарта IEEE 1149. Позднее это сокращение стало прочно ассоциироваться с разработанным этой группой специализированным… …   Википедия

  • Daisy chain (electrical engineering) — In electrical and electronic engineering a daisy chain is a wiring scheme in which multiple devices are wired together in sequence or in a ring.[1] Other than a full, single loop, systems which contain internal loops cannot be called daisy chains …   Wikipedia

  • IEEE 1149.1 — JTAG steht für Joint Test Action Group und bezeichnet normalerweise den IEEE Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Der JTAG Standard entstand durch einen… …   Deutsch Wikipedia

  • Joint Test Action Group — (kurz JTAG) bezeichnet den IEEE Standard 1149.1, der eine Ansammlung von Verfahren zum Testen und Debuggen von elektronischer Hardware direkt in der Schaltung beschreibt. Das heute prominenteste und gleichzeitig zuerst in JTAG implementierte… …   Deutsch Wikipedia

  • Serial Vector Format — Das Serial Vector Format (kurz: SVF) ist ein Dateiformat zum Austausch von Boundary Scan Testvektoren. Es wurde 1991 gemeinsam von Texas Instruments und Teradyne mit dem Ziel einer herstellerunabhängigen Beschreibung von JTAG Operationen… …   Deutsch Wikipedia

  • Boundary scan description language — (BSDL) is a description language for electronics testing using JTAG. It has been added 1996 to the IEEE Std. 1149. Boundary Scan Description Language (BSDL) is a subset of VHDL that is used to describe how JTAG (IEEE 1149.1) is implemented in a… …   Wikipedia

  • Joint Test Action Group — (JTAG) is the usual name used for the IEEE 1149.1 standard entitled Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture for test access ports used for testing printed circuit boards using boundary scan.JTAG was an industry group formed in… …   Wikipedia

  • Boundary scan — is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub blocks inside an integrated circuit.The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the… …   Wikipedia

  • Design for testing — Design for Test (aka Design for Testability or DFT ) is a name for design techniques that add certain testability features to a microelectronic hardware product design. The premise of the added features is that they make it easier to develop and… …   Wikipedia

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